Инд. авторы:	Gritsenko V.A., Lenahan P. M., Morokov Yu.N., Novikov Y.N.
Заглавие:	Nature of traps responsible for failure of MOS devices
Библ. ссылка:	Gritsenko V.A., Lenahan P. M., Morokov Yu.N., Novikov Y.N. Nature of traps responsible for failure of MOS devices [Digital resource] // arXiv:cond-mat/0011241. - 2000. - https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0011241.pdf
Издано:	2000
Ссылка:	https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0011241.pdf